鍍層測厚儀介紹

鍍層測厚儀分類

鍍層測厚儀主要有以下幾類
1.x-射線熒光測厚儀
2.β-射線測厚儀
3.庫侖測厚儀

XRF-2000 x-射線鍍層測厚儀

＊ 兼容Microsoft Windows操作系統(tǒng)之軟件
＊ 可測單層, 多層 1-6層, 合金厚度及比例
＊ 藥水分析功能.
＊ 擁有多種 Filter 選擇性
＊ 定點(diǎn)自動(dòng)定位分析
＊ 光徑對(duì)準(zhǔn)全自動(dòng)化
＊ 自動(dòng)顯示量測參數(shù)
＊ 2D/3D, 任意位置量測控制
＊ 雷射對(duì)焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)
＊ 溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時(shí)效
＊ 20X 倍放大攝影系統(tǒng).
＊ X-ray運(yùn)作待命睡眠控制                                      
＊ 全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢以及快速服務(wù)時(shí)效
＊ 彩色區(qū)別量測數(shù)據(jù),多重統(tǒng)計(jì)顯示窗口與報(bào)告編輯應(yīng)用

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析三層厚度,*的FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測量,為您大大節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.*超越其他品牌的所謂FP軟件.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度,簡單的核對(duì)方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).





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